第280章 悲催的實驗結果 (第2/4頁)
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與此同時，深流科技的石墨烯業務部實驗室內，侯廣來教授等一羣技術人員正在緊張的檢測一批剛剛做完實驗的“乘黃2”芯片。
爲了分析這批芯片是否會因爲時間和環境的變化而出現老化，這次實驗持續了整整10天時間，在這一過程當中，“乘黃2”始終處於運行的狀態，而且實驗環境也模擬了冷熱交替，從普通的20c到高溫140c，再到-20c，不斷進行循環，溼度也保持在80%以上。
一般來說，通過這種極端的環境測試，就可以提前讓芯片老化，其老化程度大約和正常使用1年後相當。從而判斷是否會因爲老化而導致整體性能的下降。
用於測試的芯片總共有110顆，其中100顆是剛剛生產的全新“乘黃2”芯片。其餘10顆則是從採購到的智貓眼鏡2上拆下來的“兔蓀1號”芯片，這些芯片主要用於對照，來檢驗實驗環境的可行性。
當結束老化實驗之後，技術人員將這些芯片一一取出，然後每10顆爲一組進行性能壓力測試。這一階段的測試主要就是來判斷芯片在出現老化之後，是否還能夠保持最初的性能。
實際上半導體芯片的性能是很難因爲老化而下降的，尤其是處理器在正常使用的情況下壽命可以超過10年。大部分處理器一直用到退役也不會出什麼問題。
然而當第一組10顆芯片的測試結果出來之後，侯廣來教授的腦門上就冒出冷汗。
因爲這10顆芯片，居然全部出現了性能下降的現象，最嚴重的的性能下降了80%，最樂觀的也下降了50%左右。
看到這一結果，旁邊的技術人員也開始小聲交流，大家的臉色也都不好看。
過了好一會兒，侯教授纔開口道：“不要停，繼續測試。”
