第280章 悲催的實驗結果 (第3/4頁)
量子糾纏薛定諤提示您：看後求收藏（貓撲小說www.mpzw.tw），接着再看更方便。
第二批10顆芯片的測試結果也很快出爐：這回比第一批更慘，老化最嚴重的一顆已經完全報廢，無法正常使用了。
這一結果讓所有人都沉默了，不過侯廣來並沒有示意停止測試，所以技術人員很快就開始了第三組的10顆芯片測試。
接下來是第四組、第五組……一直到第十組！
最終結果簡直是觸目驚心，參與測試的100顆“乘黃2”芯片無一倖免，全部都出現了性能大幅下降的現象，即使最輕微的一顆也下降了45%，另外更是有15顆芯片完全報廢。
這還只是模擬了1年後的老化情況，如果實驗的時間更長一些的話，恐怕這100顆芯片全部都會“陣亡”！
“是不是實驗的方法有問題？”一名技術員小聲說道，“或許是設置的測試環境參數太過嚴苛了，正常情況下咱們的芯片也不會在超過100c的高溫高溼環境中使用吧？”
這句話引起了不少年輕技術員的贊同，但是侯廣來和一些老技術員卻很清楚，100c的高溫對於人類來說自然是無法忍受，但是對於半導體芯片卻並不誇張。很多處理器的核心運行溫度就能輕鬆超過100c了。
而且這次老化實驗本來就是要模擬“乘黃2”芯片長期使用後的具體情況，實驗環境如果不設置的嚴格一些，根本達不到預期的效果。
侯廣來臉色蒼白的看着最終的實驗結果，有些不甘心的道：
“把另外那10顆遠光科技的芯片也測試一下。”
